Puce électronique

Le CSEM développe un capteur d’images minuscule pour inspecter le fuselage des avions

Coordonnée par le CSEM de Neuchâtel, une recherche européenne va développer des capteurs d'images à large gamme spectrale de moins d’un millimètre d’épaisseur. L’idée est de pouvoir les intégrer au fuselage des avions pour optimiser les procédures de détection d'éventuels dommages ou défauts.

La puce électronique que développe le CSEM va permettre d’optimiser l'inspection du fuselage des avions. (Source: Maxian / iStock.com)
La puce électronique que développe le CSEM va permettre d’optimiser l'inspection du fuselage des avions. (Source: Maxian / iStock.com)

Des chercheurs vont s'atteler à mettre au point un capteur d’images minuscule, pour inspecter le fuselage des avions. Coordonnée par le CSEM (Centre suisse d'électronique et de microtechnique) de Neuchâtel, cette recherche européenne devrait ouvrir la voie au développement d’avions plus légers et donc moins polluants. La technologie en développement pourra être inséré directement dans les structures en composite des avions. Ces matériaux sont plus légers que ceux utilisés traditionnellement, mais également plus fragiles. «Lorsqu’un impact se produit sur des matériaux composites, cela crée une onde de choc, qui se propage et peut aller causer des dégâts – appelés des délaminages – loin de l’impact. Cela rend la détection plus difficile», explique Pierre-François Rüedi, expert au CSEM et responsable du projet.

Moins d’un millimètre d’épaisseur

Pour détecter des dommages structurels, les méthodes actuelles sont longues et coûteuses, précise le communiqué du CSEM. Les capteurs d’images intégrés à la structure, de moins d’un millimètre d’épaisseur et à large gamme spectrale, pourront optimiser la procédure d’inspection. Il seront composés d’une puce électronique surmontée de différents types de couches sensibles, pour capter la lumière visible à l’œil nu, mais aussi les rayons X et infrarouges. Les couches sensibles seront toutes à base de pérovskite, un matériau semiconducteur aussi utilisé dans le développement de cellules solaires. «En plus d’éviter des immobilisations et de permettre des inspections plus fréquentes et plus rapides, ce dispositif possèdera une gamme de sensibilité qu’aucun autre dispositif n’est capable d’offrir actuellement», souligne l’expert du CSEM.

Le projet de recherche, qui implique aussi des partenaires français (Université Jean Monnet et l'entreprise Almay Technologies), s’achèvera en août 2023.

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